ویژه های مهامکس

FE-SEM TESCAN MIRA3

مدت زمان تخمینی
30تا 45روز کاری
هزینه به ازای هر نمونه
۱,۹۰۰,۰۰۰ ریال
مبلغ ۹٪ مالیات بر‌ ارزش افزوده به هزینه کل اضافه می‌شود.

شرایط خاص و نکات مهم در ارسال نمونه

لطفاً این دستگاه را برای بزرگنمایی های کمتر از ۲۰۰ هزار برابر (مقیاس ۲۰۰ نانومتر) و بیشتر از ۵ هزار برابر (مقیاس ۱۰ میکرون) و مقیاس انتخاب کنید(تصاویر انتهای صفحه راهگشا خواهند بود). برای ذرات و ساختار های با ابعاد میکرو متر از دستگاه FESEM-FEI Nanosem 450 استفاده نمایید. همینطور برای انجام تست در زمان کمتر نیز دستگاه FESEM-FEI Nanosem 450 را ثبت نمایید.

درباره آنالیز

دستگاه آنالیز FE-SEM TESCAN MIRA3

برند TESCAN یکی از برندهای معتبر در در زمینه ساخت میکروسکوپ‌های الکترونی SEM و TEM است و میکروسکوپ FE-SEM با مدل MIRA3 یکی از پرفروش‌ترین مدل‌های این برند بوده است. این میکروسکوپ با استفاده از مکانیزم گسیل میدانی (Field Emission) در تفنگ الکترونی خود پرتو الکترونی تولید می‌کند. این امر باعث می‌شود تا پرتو الکترونی تولید شده در این میکروسکوپ بتواند در منطقه کوچکتری از نمونه فکوس پیدا کند و در نتیجه آن رزولوشن و قدرت بزرگ‌نمایی موثر آن افزایش یابد. از نظر تئوری این میکروسکوپ FE-SEM می‌تواند قدرت تفکیک یک نانو متری داشته باشد ولی دستیابی به این قدرت تفکیک وابسته به نوع نمونه و شرایط آماده سازی آن دارد. به طور معمول در این میکروسکوپ FE-SEM قدرت تفکیک ۵ نانو متری در غالب نمونه‌ها قابل دستیابی است. میز کار (قسمتی که نمونه‌ها روی آن قرار می‌گیرند) این میکروسکوپ FE-SEM قابلیت چرخش و حرکت در ۵ محور (دو محور چرخشی و سه محور حرکتی) را دارد که این امر قابلیت خوبی را به اپراتور می‌دهد تا بتواند در جهات مختلف از نمونه تصویر برداری کند. این قابلیت برای تصویر برداری از نمونه‌های لیتوگرافی،سطح شکست و بررسی ساختارهای سه بعدی بسیار کارآمد است.

تفسیر آنالیز FE-SEM

برای بررسی نمونه‌های لایه نازک و یا بررسی نمونه‌های پلیمری، زیستی و نمونه‌های حساس به دما لازم است از الکترون‌های با انرژی کم استفاده شود به همین دلیل باید ولتاژ شتاب الکترون حداقل شود. در این حالت در نمونه‌های لایه نازک الکترون‌های فرودی به سطح نمی‌توانند به زیر لایه برسند، از این رو اطلاعات بدست آمده از نمونه مربوط به لایه نازک خواهد بود و تصویر برداری بهتری انجام می‌شود. در نمونه‌های زیستی و یا نمونه‌های حساس به دما، باید ولتاژ شتاب الکترون کم انتخاب شود تا در حین تصویر برداری ساختار نمونه دچار تغییر نشود. مشکل اصلی در تصویر برداری با ولتاژ کم، کاهش کیفیت تصاویر است. زمانی که انرژی الکترون‌های فرودی به نمونه کاهش می‌یابد، تعداد الکترون‌های بازگشتی و ثانویه نیز به شدت کاهش می‌یابد و این امر باعث کاهش کیفیت تصویر می‌شود. در میکروسکوپ FE-SEM TESCAN MIRA3 با استفاده از فناوری BDT این مشکل کاهش پیدا کرده و این میکروسکوپ می‌تواند برای بررسی نمونه‌های حساس به دما مانند نمونه‌های زیستی مورد استفاده قرار بگیرد. البته باید توجه داشت که این میکروسکوپ نمی‌تواند از نمونه‌های مرطوب تصویر برداری کند و نمونه‌ها باید حتما خشک و بدون آب یا رطوبت باشند.

مشخصات فنی FE-SEM TESCAN MIRA3

  • امکان انجام آنالیز تصویری از نمونه های خاص
  • قابلیت تصویربرداری و نقشه برداری
  • تصویرگیری از توپوگرافی سطح مواد در(SE Mode)
  • سطوح غیر رسانا مانند سرامیکها، پلیمرها و نمونه های حاوی مواد زیستی باید با کربن یا طلا پوشش داده شود
  • دارای تکنولوژی BDT برای ایجاد رزولوشن عالی در ولتاژهای کم

توانایی ها

  • قابلیت عکس‌برداری از سطوح با بزرگنمایی ۱۰۰  تا ۲۰۰۰۰۰ برابر با قدرت تفکیکی کمتر از ۱ تا ۲۰ نانومتر
  • تهیه آنالیز نیمه کمی توسط آنالایزر EDS برای عناصر بالاتر از بور و نمونه های مجهول و همچنین بررسی کمی ساختار شیمیایی سطح مواد تهیه آنالیز منطقه ای، آنالیز نقطه ای (Spot) ، آنالیز خطی (Line Scan) و آنالیز صفحه ای (Map)
  • تعیین جنس و ضخامت پوشش های چند لایه با ضخامت کمتر از ۱µm
  • تهیه تصاویر با ولتاژ پایین جهت نمونه های بیولوژیکی، پلیمری و اطلاعات سطحی نمونه ها
  • تهیه تصاویر سه بعدی از نمونه ها
  • شکست نگاری و بررسی مورفولوژی انواع نمونه ها (پودری،بالک و غیره)
  • تعیین اندازه ذرات پودرها در ابعاد نانومتر
  • تصویربرداری از سطح نمونه های مختلف، به ویژه نمونه های نانوساختار، توسط سیگنال های الکترونی ثانویه و بازگشتی با حد تفکیک بسیار بالا
  • تصویربرداری از نمونه های نارسانا بدون نیاز به پوشش دهی
  • تصویربرداری از نمونه های زیستی با ولتاژ پایین
  • قابلیت انجام آنالیز کیفی و کمی در نمونه های مختلف از جمله نمونه های نانو ساختار را با حد تفکیک جانبی بسیار خوب
  • تهیه نقشه توزیع عناصر در نمونه های مختلف با سرعت و دقت بالا به روش .X-ray Digital Mapping
  • بررسی سطح شکست (فرکتوگرافی)

 

نمونه تصاویر این دستگاه

لازم به ذکر است که کیفیت تصویر و تفکیک بالا در تصاویر رابطه مستقیمی با ساختار نمونه و کیفیت سنتز و عدم حضور آلودگی و ذرات ناخواسته دارد و نمونه های با ساختار مشخص تصاویر قابل قبولی بدست می دهند.تصاویر زیر مقیاس و بزرگنمایی مربوط به آن را نشان میدهد.